<p id="szhlv"><li id="szhlv"><menuitem id="szhlv"></menuitem></li></p><cite id="szhlv"><rp id="szhlv"><form id="szhlv"></form></rp></cite>
    <pre id="szhlv"><code id="szhlv"></code></pre>

      <style id="szhlv"></style>
      <thead id="szhlv"></thead>
      1. 久久99精品久久久久,日韩无毛,va精品在线,人妻精品视频,欧美性色黄大片www喷水,亚洲精品乱码久久久久99,人妻久久久,亚洲夫妻性生活视频网站
        精品推薦 RECOMMEND PRODUCTS
        高加速壽命試驗(yàn)箱
        高加速壽命試驗(yàn)箱:PC-422R9,性能穩(wěn)定,已經(jīng)廣泛應(yīng)用于電子零件制造商或與半導(dǎo)體光伏、電路板等相關(guān)的使用者;以及塑料、橡膠、黏合劑和電鍍材料相關(guān)的制造商或使用者的相關(guān)科研實(shí)驗(yàn)室,在同類產(chǎn)品中始終處...

        高加速壽命試驗(yàn)箱

        恒溫箱、潔凈箱(送風(fēng)定溫恒濕箱)
        恒溫箱、干燥箱(送風(fēng)定溫恒濕箱)送風(fēng)定溫恒濕箱DKN412C■操作性 · 功能● 易操作,定值運(yùn)行、程序運(yùn)行、快速自動(dòng)停止運(yùn)行、自動(dòng)停止運(yùn)行、自動(dòng)開始運(yùn)行均可實(shí)現(xiàn)?!?可通過專用的功能菜單鍵...

        恒溫箱、潔凈箱(送風(fēng)定溫恒濕箱)

        導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置
        導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。

        導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置

        HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱
        HIRAYAMA公司專業(yè)從事研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、高壓殺菌器,醫(yī)療設(shè)備,HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱 HAST/PCT設(shè)備。高加速壽命試驗(yàn)箱

        HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱

        日立中國(guó)代理(cosmopia)液槽沖擊試驗(yàn)箱
        日立中國(guó)代理(cosmopia)液槽沖擊試驗(yàn)箱(冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī))采用渦旋式壓縮機(jī),使其在低溫領(lǐng)域也能實(shí)現(xiàn)高效和穩(wěn)定的運(yùn)行。不論是在提高各類產(chǎn)品的可靠性方面還是在食品、化學(xué)、醫(yī)藥領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)研究方面,都能...

        日立中國(guó)代理(cosmopia)液槽沖擊試驗(yàn)箱

        日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱
        日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱,恒濕恒溫箱是指能同時(shí)施加溫度、濕度應(yīng)力的試驗(yàn)箱,用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。

        日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱

        J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
        J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1 ~1000 小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生, 并記錄電阻值變化狀況...

        J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)

        日本hitachi(cosmopia)冷熱沖擊試驗(yàn)箱
        日本hitachi(cosmopia)冷熱沖擊試驗(yàn)箱為進(jìn)口的冷熱沖擊試驗(yàn)箱,可根據(jù)用戶要求設(shè)計(jì)制造,適用于航空、航太、軍工、艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機(jī)及零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)及高溫或低溫環(huán)境下的貯存和...

        日本hitachi(cosmopia)冷熱沖擊試驗(yàn)箱

        J-RAS ECMr離子遷移試驗(yàn)裝置
        J-RAS ECMr離子遷移試驗(yàn)裝置,在高溫高濕條件下,對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置 絕緣可靠性評(píng)估,原理為印刷電路板上給予一固定...

        J-RAS ECMr離子遷移試驗(yàn)裝置

        高加速壽命試驗(yàn)箱
        HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱具備 非飽和/飽和控制 兩種模式。具備可記錄150個(gè)程序的控制器,操作簡(jiǎn)單方便。箱門采用按鈕式,試驗(yàn)中自動(dòng)鎖緊,安全可靠。通過緩降壓、排氣、排水系統(tǒng)控制避免試驗(yàn)結(jié)束后壓...

        高加速壽命試驗(yàn)箱

        高加速壽命試驗(yàn)箱
        HIRAYAMA公司位于日本埼玉縣春日部市,于1924年1月成立,專業(yè)從事研發(fā)、生產(chǎn)、銷售HAST/PCT設(shè)備。其生產(chǎn)的HAST/PCT設(shè)備種類齊全,性能穩(wěn)定,已經(jīng)廣泛應(yīng)用于電子零件制造商或與半導(dǎo)體光...

        高加速壽命試驗(yàn)箱

        低溫低濕箱
        日本hitachi(cosmopia)低溫低濕箱,用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、...

        低溫低濕箱

        關(guān)于我們
        深圳市世紀(jì)天源儀器有限公司
        世紀(jì)天源(香港)有限公司,英文(簡(jiǎn)稱SKYAN)。是一家立足于研發(fā)測(cè)試領(lǐng)域,集儀器銷售、租賃、技術(shù)咨詢、維修服務(wù)于一體的高新技術(shù)型企業(yè)。是中國(guó)印制電路行業(yè)協(xié)會(huì)(CPCA)會(huì)員企業(yè)。公司位于香港,營(yíng)運(yùn)中心設(shè)在深圳,在日本東京擁有子公司,在新加披、越南、泰國(guó)英國(guó)設(shè)有商務(wù)和銷售據(jù)點(diǎn),在中國(guó)上海、蘇州、青島、武漢、成都、廈門等設(shè)有營(yíng)業(yè)網(wǎng)點(diǎn)全國(guó)設(shè)有多家授權(quán)分銷商。SKYAN公司是日本HIRAYAMA株式會(huì)社工業(yè)設(shè)備的海外銷售中心--成立于1990年的新加坡HMCSALES&SERVICEPTELTD(HIRAYAMAFACTORYSUPPORTCENTRE)在中國(guó)的關(guān)聯(lián)企業(yè);是HITACHI環(huán)測(cè)(COSMOPIA)的中國(guó)代理商;是日本J-RAS株式會(huì)社的中國(guó)大陸代理商:同時(shí),還是東揚(yáng)精測(cè)、HORIBA巖崎電氣、三井電氣精機(jī)等日本企業(yè)的戰(zhàn)略合作伙伴。公司奉行“引入先進(jìn),成就品質(zhì),創(chuàng)造價(jià)值,...
        了解更多
        行業(yè)資訊 INDUSTRY NEWS
        在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)和產(chǎn)品研發(fā)領(lǐng)域,為了確保產(chǎn)品能夠在各種復(fù)雜惡劣的環(huán)境下穩(wěn)定可靠地運(yùn)行,PC-422R8高加速壽命試驗(yàn)箱應(yīng)運(yùn)而生。它猶如一位嚴(yán)格的“質(zhì)檢員”,對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性進(jìn)行著較為嚴(yán)苛的考驗(yàn)。PC-422R8高加速壽命試驗(yàn)箱,簡(jiǎn)稱HALT試驗(yàn)箱,是一種環(huán)境應(yīng)力測(cè)試設(shè)備。其核心原理是通過在較短的時(shí)間內(nèi),對(duì)產(chǎn)品施加遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過其正常工作條件下的溫度、振動(dòng)、電壓等多種應(yīng)力組合,從而快速激發(fā)產(chǎn)品潛在的缺陷,使其在較短時(shí)間內(nèi)暴露出問題,以便研發(fā)人員能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)并加以改進(jìn)。與傳統(tǒng)的可靠性試驗(yàn)方法相比,HAL

        友情鏈接: indigo80 | 卡爾費(fèi)休水分儀 | 硫酸諾爾絲菌素 | 液氯泵 | 標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻 | 普盧福對(duì)中儀 | 信息化試劑安全柜 | 冷鏡式露點(diǎn)儀 | 飛利浦LED油站燈 |